核心詞：阻燃 控制 電纜 ZR-KVVP   37X1.0   屏蔽 多 芯 控制 電纜 
　　濕材料在0℃以下進(jìn)行,因?yàn)槠渌謨鼋Y(jié),TGδ將降低。然而,對(duì)于無損檢測(cè),有些法規(guī)沒有做出相應(yīng)的規(guī)定,有些法規(guī)也有規(guī)定,但檢測(cè)結(jié)果在合格范圍內(nèi)變化很大?？梢詫y(cè)試數(shù)據(jù)與歷史測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,阻燃控制電纜ZR-KVVP 37X1.0 屏蔽多芯控制電纜仔細(xì)分析設(shè)備的歷史運(yùn)行記錄,找出問題的根本原因,從而做出有效的判斷。可以發(fā)現(xiàn)絕緣層受潮、絕緣層中含有氣體、潮濕物體或其他污垢等缺陷。總之,我們要堅(jiān)持科學(xué)的態(tài)度和實(shí)事求是的精神,阻燃控制電纜ZR-KVVP 37X1.0 屏蔽多芯控制電纜全面、歷史地比較、分析和判斷試驗(yàn)結(jié)果,掌握電氣設(shè)備運(yùn)行過程中性能變化的規(guī)律和趨勢(shì),并以此來正確判斷設(shè)備的絕緣狀況,為設(shè)備的安全運(yùn)行提供強(qiáng)有力的技術(shù)支持。如果超過規(guī)定值,必須查明原因,并找出有缺陷的零件,并結(jié)合其他試驗(yàn)方法進(jìn)行處理。由于介質(zhì)損耗,絕緣層內(nèi)部產(chǎn)生熱量。介質(zhì)損耗越大,絕緣內(nèi)部產(chǎn)生的熱量越大,從而進(jìn)一步增加損耗;這種連續(xù)循環(huán)會(huì)在絕緣薄弱的地方引起擊穿,因此測(cè)量TGδ對(duì)判斷電氣運(yùn)行過程中的絕緣狀況具有重要意義。

因?yàn)槿绻姎庠O(shè)備的絕緣在設(shè)備運(yùn)行期間沒有發(fā)生變化,那么測(cè)試數(shù)據(jù)必須相對(duì)接近。
　　1、實(shí)踐證明
　　實(shí)踐證明,TGδ測(cè)試是評(píng)價(jià)高壓電氣設(shè)備的一種非常有效的方法。如果有明顯異常,則表明設(shè)備絕緣可能存在一些缺陷。
　　2、一般來說
　　一般來說,TGδ隨溫度升高而增大,隨溫度降低而減小。
　　3、某一溫度下的TGδ不能準(zhǔn)確地轉(zhuǎn)換為另一溫度下的TGδ
　　某一溫度下的TG不能δ準(zhǔn)確地轉(zhuǎn)化為另一溫度下的TGδ,因此,TG應(yīng)盡可能在同一溫度下進(jìn)行δ推薦溫度范圍為10~30℃。絕緣介質(zhì)損耗是介質(zhì)損耗角δ的正切Tg。
　　4、結(jié)果表明
　　它表明,在一定電壓和頻率下,它反映了單位體積電介質(zhì)的能量損耗,與電介質(zhì)的體積大小無關(guān)。根據(jù)各種測(cè)試方法的有效性和設(shè)備運(yùn)行的歷史情況,我們可以對(duì)被測(cè)設(shè)備的絕緣狀況和缺陷做出科學(xué)、客觀的結(jié)論。當(dāng)某些絕緣材料的溫度低于某一臨界值時(shí),由于其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的特殊性,其TG會(huì)降低。δ值可能隨溫度的升高而降低,隨溫度的降低而升高。在電氣設(shè)備的運(yùn)行過程中,任何介質(zhì)在電壓的作用下都會(huì)因電流的通過而產(chǎn)生能量損失。這種電介質(zhì)在電壓作用下產(chǎn)生的所有損耗統(tǒng)稱為電介質(zhì)損耗。如果三相試驗(yàn)的測(cè)量數(shù)據(jù)不同,則表明異常相位存在問題。如果絕緣內(nèi)部存在缺陷,阻燃控制電纜ZR-KVVP 37X1.0 屏蔽多芯控制電纜其TGδ值將隨著電壓的增加而顯著增加。因此,介質(zhì)損耗的大小是衡量絕緣介質(zhì)電氣性能的重要指標(biāo),對(duì)電氣設(shè)備的正常安全運(yùn)行起著決定性的作用。在電氣設(shè)備運(yùn)行過程中,如果介質(zhì)損耗較大,會(huì)導(dǎo)致絕緣材料老化,礦用電纜在工作過程中介質(zhì)溫度會(huì)不斷升高,最終導(dǎo)致介質(zhì)熔化、結(jié)焦甚至擊穿。接下來,我將對(duì)介質(zhì)損耗的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步的分析和判斷。
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