核心詞：ZR-RYYS 雙絞電纜ZR-RVVSP 阻燃 雙絞 屏蔽 軟芯 電纜 
　　在實際應(yīng)用中,溫度和氣壓差引起的偏差很小,可能會淹沒在儀器本身的誤差和測量偏差中。定子繞組應(yīng)分階段進(jìn)行測試。在試驗過程中,ZR-RYYS雙絞電纜ZR-RVVSP阻燃雙絞屏蔽軟芯電纜被測繞組的頭部和尾部應(yīng)短路,未被測繞組應(yīng)接地短路。因此,正確評估放電后果也是紫外成像檢測技術(shù)在該系統(tǒng)中應(yīng)用需要解決的主要問題。在某電廠330MW發(fā)電機(jī)直流泄漏試驗中,發(fā)現(xiàn)a相繞組的泄漏電流明顯高于其他兩相。
　　1、經(jīng)檢查
　　經(jīng)檢查,相條有明顯的磨損和碳化痕跡,應(yīng)為運(yùn)行中長期電暈腐蝕所致。為了檢查其他定子線棒的防電暈?zāi)芰κ欠窈细?應(yīng)進(jìn)行電暈起始試驗。配備日盲濾光片的紫外線成像儀可以探測到太陽中240-280nm的微弱電暈輻射。接收設(shè)備放電產(chǎn)生的紫外線信號經(jīng)過處理,與可見光圖像重疊,并顯示在儀器屏幕上。試驗后,發(fā)電機(jī)定子線棒上有許多明顯的電暈點,其中,當(dāng)試驗電壓為5kV時,在13、14槽的盤條勵磁側(cè)（具體位置見圖）可檢測到明顯的連續(xù)電暈;當(dāng)試驗電壓為15kV時,在21號槽和22號槽（具體位置見圖）中的盤條勵磁側(cè)可檢測到明顯的連續(xù)電暈;試驗電壓為18kV時,連續(xù)電暈放電增加（見圖）;線棒勵磁側(cè)位于槽23和24中（具體位置如圖所示,當(dāng)試驗電壓為15kV時,可檢測到明顯的連續(xù)電暈,當(dāng)試驗電壓高于10kV時,以每1kV停留10s的速度上升,并在每個階段觀察到電暈,試驗過程中采用紫外成像儀進(jìn)行檢測,ZR-RYYS雙絞電纜ZR-RVVSP阻燃雙絞屏蔽軟芯電纜紫外成像技術(shù)已廣泛應(yīng)用于戶外高壓運(yùn)行的巡檢中并積累了一定的檢測經(jīng)驗。對于運(yùn)行期間處于密封狀態(tài)的發(fā)電機(jī),紫外線成像技術(shù)無法發(fā)揮作用,但在發(fā)電機(jī)維護(hù)試驗期間,它可以配合交流耐壓試驗,找到定子線棒表面的絕緣缺陷點。一般來說,高壓和低溫下的紫外計數(shù)低于低壓和高溫下的紫外計數(shù)。現(xiàn)有的紫外線檢測設(shè)備通過檢測到的紫外線光子數(shù)來表征放電強(qiáng)度,但儀器顯示的光子數(shù)與儀器本身的增益（可調(diào)）密切相關(guān),并與檢測儀器與放電點之間的距離、空氣濕度和其他環(huán)境因素有關(guān)。
　　2、為了準(zhǔn)確反映放電強(qiáng)度
　　為了準(zhǔn)確反映放電強(qiáng)度,必須對儀器顯示的光子數(shù)進(jìn)行有效校準(zhǔn)。然而,實際情況和理想情況之間可能存在很大差異。為了確定距離和電暈數(shù)之間的關(guān)系,模擬一個點電暈源來記錄不同距離處的紫外計數(shù)和平均值。得到的規(guī)律是:放電計數(shù)與距離的平方近似成反比;隨著距離的增加,放電次數(shù)減少。利用紫外成像儀檢測帶電設(shè)備的電暈（工作波段在240nm到280nm之間）,統(tǒng)計單位時間內(nèi)測量的紫外光子數(shù),確定電暈的位置和強(qiáng)度,為電氣設(shè)備的狀態(tài)監(jiān)測提供依據(jù)。
　　3、高壓電氣設(shè)備放電光譜的波長范圍為230nm-405nm
　　高壓電氣設(shè)備放電光譜的波長范圍為230nm-405nm,其中240nm-280nm的光譜段稱為太陽盲區(qū)。在這個波長范圍內(nèi),太陽發(fā)出的紫外線量非常低。試驗數(shù)據(jù)表明,發(fā)電機(jī)定子繞組線棒上有明顯的電暈點。外觀防電暈結(jié)構(gòu)受損的定子線棒表面比正常線棒更明顯,電暈起始電壓較低,長期運(yùn)行可能會進(jìn)一步擴(kuò)大缺陷。因此,建議對發(fā)電機(jī)受損部分進(jìn)行處理,處理后再次進(jìn)行試驗,ZR-RYYS雙絞電纜ZR-RVVSP阻燃雙絞屏蔽軟芯電纜以檢查處理效果,確保發(fā)電機(jī)投運(yùn)后穩(wěn)定運(yùn)行。因此,空氣壓力和溫度之間的差異通常不會得到校正。檢測距離對檢測結(jié)果有顯著影響。
　　4、當(dāng)距離增加時
　　當(dāng)距離增加時,檢測視角將減小,相應(yīng)的靈敏度將降低。在實際應(yīng)用中需要進(jìn)一步總結(jié)。此外,也有報道稱放電計數(shù)與距離的冪成反比,ZR-RYYS雙絞電纜ZR-RVVSP阻燃雙絞屏蔽軟芯電纜放電計數(shù)的數(shù)量隨著距離的增加而減少。
　　5、在傳統(tǒng)的試驗中
　　在傳統(tǒng)的試驗中,對試驗場地條件要求較高,電暈點不易觀測。在本試驗中,將使用紫外線成像檢測技術(shù)來檢查電暈點。如果設(shè)備均壓環(huán)上的放電在一定時間內(nèi)不會影響設(shè)備的安全穩(wěn)定運(yùn)行,而絕緣套管表面的放電可能會導(dǎo)致系統(tǒng)事故。由于污染成分和濕度的不確定性,無法糾正。將紫外成像測試技術(shù)應(yīng)用于發(fā)電機(jī)定子繞組線棒的電暈起始測試中,可以有效地找到定子線棒的電暈起始點,尤其是在發(fā)電機(jī)安裝現(xiàn)場進(jìn)行的測試,降低了對測試環(huán)境的要求。在低試驗電壓下可以看到明顯的電暈點,避免了傳統(tǒng)試驗方法在高壓下對發(fā)電機(jī)絕緣性能的損害。濕度的影響在某些情況下,濕度的增加會降低電暈強(qiáng)度;在大多數(shù)情況下,濕度的增加會導(dǎo)致日冕強(qiáng)度的增加。在放電過程中,電子會釋放能量（即在放電過程中）,而電子會釋放能量。在理想條件下,ZR-RYYS雙絞電纜ZR-RVVSP阻燃雙絞屏蔽軟芯電纜點光源在均勻介質(zhì)中發(fā)射的光波強(qiáng)度與距離的平方成反比。氣壓和溫度的變化會改變空氣的密度并影響電離過程,礦用電纜因此氣壓和溫度的變化會影響儀器收集的紫外線光子數(shù)。

高壓設(shè)備在放電過程中,根據(jù)電場強(qiáng)度的不同,會產(chǎn)生電暈、電弧或閃絡(luò)。
　　如果您對“ZR-RYYS雙絞電纜ZR-RVVSP阻燃雙絞屏蔽軟芯電纜”感興趣，歡迎您聯(lián)系我們