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  • [電纜價格]根據參數S測量半導體電纜層的復介電

[電纜價格]根據參數S測量半導體電纜層的復介電

描述:

高頻脈沖在電纜中傳播,半導體層是影響主要影響因素的原因。于測量半導體層的可變頻率參數的復介電常數的難度,估計網絡S的方法的參數的兩個端口被提出并復介電常數的作為頻率......

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  高頻脈沖在電纜中傳播,半導體層是影響主要影響因素的原因。于測量半導體層的可變頻率參數的復介電常數的難度,估計網絡S的方法的參數的兩個端口被提出并復介電常數的作為頻率的函數的曲線研究。果表明,測量在兩個終端的S參數的發(fā)送的方法可以與半導體層的復介電常數的精度和穩(wěn)定性測量和表征損耗特性作為脈沖傳播高的頻率的函數的頻率。力電纜;局部放電;半導體層;復介電常數;矢量網絡分析儀DOI:10.16640 / j.cnki.37-1222 / t.2017.04.037電力電纜具有在傳輸和電源的分布的許多應用中,產生高頻信號的時電纜內部有缺陷。部放電測量[1]和信號分析[2]是評估電纜故障的重要方法。高頻帶的脈沖傳播特性中,電纜的半導體層占主導地位,礦用電纜但不考慮半導體層的復介電常數的頻率變化特性的影響。
  研究國內外有線電路中脈沖信號的傳播時[3]。些外國專家總結了復介電常數的實證模型,但無論在有線模式,即在頻域的復變函數復介電常數的形式,獲得復電容很難在時域解決。[4]電源線可以描述為雙端口網絡,S參數的引入避免了主干中理想的短路開放終端中額外電感和寄生電容的困難。

根據參數S測量半導體電纜層的復介電常數_no.52

  
  越[5]。用由矢量網絡分析儀測得的供電電纜參數的S,用于測量所述半導體層的可變頻率參數的復介電常數的方法,提出并在電纜本身進行實驗驗證 - 即使。端口等效網絡的測量原理STONE和BOGGS [6]提出了電纜傳輸線的模型,礦用電纜之后研究人員在此基礎上繼續(xù)開發(fā)和改進。纜的幾何模型如圖1所示。導體層包括內半導體層,外半導體層和金屬保護層。本文中,僅聚焦半導體層并剝離電纜以獲得半導體層樣品。驗測量和模擬驗證介電常數的復雜測量基于上述測量方法和實驗平臺:兩種不同長度(長度7.3m,5.5m)和相同規(guī)格的電纜樣品選擇,并在剝離處理后使用矢量網絡。LCR分析儀和測試儀測量電纜半導體層的復介電常數。確保測量精度,在三次測試后計算每根電纜的平均值。

根據參數S測量半導體電纜層的復介電常數_no.233

  品電纜參數如表1所示。量后,得到內外半導體層和金屬屏蔽層的復介電常數,如圖5所示。們在圖5中看到。導體層的復介電常數的實部和虛部隨頻率變化,具有可變頻率特性,并且都隨頻率減小并逐漸達到最小值。著頻率的增加,復介電常數的實部和虛部在高頻下從幾十減少到幾百。低頻帶中,內半導體層和外半導體層與金屬屏蔽層的實際值沒有太大差別:如果虛部的值相差很大,達到102的數量級,則虛部金屬屏蔽層最大,內半導體層在外面。導體層是最小的。
  低頻范圍內,半對數層的復介電常數的虛部的曲線在雙對數坐標中具有約-1的斜率。頻脈沖模擬的目的是驗證測量方法的準確性:計算出的復介電常數值代替電力電纜的并聯(lián)并聯(lián)模型,然后是衰減系數γ和計算高頻脈沖傳播的相位β。6顯示了實驗測量和模擬曲線的比較。圖6中可以看出,電纜和半導體層中的高頻脈沖的傳播特性代表了主要的影響因素。S參數測量由復介電常數計算高頻脈沖的傳播特性,在幅頻特性和相位頻率特性通常與所造成的脈沖在傳播仿真和高頻損失一致描述了電纜。論根據網絡參數S的傳輸的方法的兩個端口的原則,實驗平臺建立和用于測量半導體層的復介電常數,這是主要影響的方法提出了電力電纜傳播過程中的高頻脈沖。證了該方法的準確性。方法考慮了復介電常數的頻率變化因子,解決了經驗電介質模型在時域難以求解的問題,為研究高頻脈沖傳播特性提供了參考。電纜中。
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