在煙霧彌漫的環(huán)境中，絕緣子的表面可能會形成污垢層，這會增加高壓傳輸線上發(fā)生旁路事故的風(fēng)險。當前的霧霾氣候下，研究“十三五”期間超高壓輸電的平穩(wěn)發(fā)展，研究天然廢水絕緣子表面惡臭顆粒的特性非常重要?！耙约皣译娋W(wǎng)的安全運行。
　　義近年來，隨著中國工業(yè)化進程的迅速發(fā)展，高壓電網(wǎng)的安全運行已成為國民經(jīng)濟持續(xù)發(fā)展的不可或缺的基礎(chǔ)[1、2 ]。于灰塵和煙霧，直接暴露在空氣中的絕緣子表面可能會形成堵塞層，這會增加繞過絕緣子的風(fēng)險，并威脅到高壓電網(wǎng)的安全穩(wěn)定運行。壓。了進一步研究薄霧環(huán)境下天然煙霧絕緣子表面上被污染顆粒的特性，本文進行了自然污染測試，以揭示煙霧顆粒對絕緣絕緣的影響。為煙霧環(huán)境中的防污和清潔絕緣子提供參考。緣污染模擬實驗是基礎(chǔ)。
　　文件在蘇州市姑蘇區(qū)蘇州大學(xué)工廠廠房的屋頂上建立了一個自然污染觀測試驗場，主要是由于煙霧和來自學(xué)生食堂鍋爐室的灰塵和主要道路車輛的廢氣。了恢復(fù)普通輸電塔的高度并防止樹木和校園建筑物被風(fēng)遮擋，本文將在位于建筑物頂部的13米機器處建立污染控制點。度為m，高度為1.2 m，絕緣體與地面的總距離。于14.2 m，本文件的自然結(jié)垢測試點用1表示。受自然風(fēng)的阻礙，可以很好地恢復(fù)輸電塔環(huán)境中的隔熱層。測試開始時，將清潔過的XP13-160絕緣子正確地放置在觀察點上，僅選擇無雨天氣測試將絕緣子放置在觀察點上。氣結(jié)束后，繼續(xù)返回觀察點，以避免雨水浸入絕緣子表面。個試驗持續(xù)了一個月，試驗期間下雨的總天數(shù)為12天。試中使用的絕緣樣品是蘇州電瓷廠生產(chǎn)的XP13-160絕緣材料，其參數(shù)如表1所示。

　　關(guān)研究表明，來源更多隨著監(jiān)測點附近污染的增加，絕緣子表面上的污染沉積很嚴重[3]。此，在本文件中定義的觀察點，對煙霧顆粒濃度的公開數(shù)據(jù)的監(jiān)控與煙霧顆粒濃度的監(jiān)控有所不同。此，通用數(shù)字顆粒濃度傳感器PMS7003用于構(gòu)建用于監(jiān)測大氣霧中顆粒濃度以及自然污染觀測點附近空間中顆粒濃度的裝置絕緣被監(jiān)控。們制造的大氣顆粒物濃度檢測裝置如圖2所示。裝置由一個Arduino單片機，一個PMS7003傳感器和一個電源組成。垢期間觀察點附近的PM2.5和PM10質(zhì)量濃度數(shù)據(jù)如表2所示。
　　緣子表面上的大多數(shù)顆粒都是細顆粒，例如霧，這就是為什么使用電子顯微鏡（SEM）觀察絕緣子表面上的污染顆粒的原因。
　　先，選擇絕緣子表面上受污染的顆粒采樣區(qū)域，當導(dǎo)電條粘附到顆粒上時，為避免過度用力，導(dǎo)電膠內(nèi)部的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)應(yīng)為在粘合過程中損壞并防止顆粒壓縮。壞失去了其原始形式。后，對粘附有樣品顆粒的導(dǎo)電條進行必要的處理。后，將處理后的樣品放置在電子顯微鏡下的觀察區(qū)內(nèi)，并拍攝所需樣品的照片。文中使用的電子顯微鏡是Hitachi SU5000熱場發(fā)射掃描顯微鏡（請參見圖3）。擇隔離器表面的適當采樣區(qū)域以獲得觀察樣本，并獲得掃描的粒子圖像，如圖4所示。
　　4是已知在大霧天氣下絕緣子表面上被污染顆粒的微觀形態(tài)。受污染顆粒尺寸的統(tǒng)計中，盡管掃描電子顯微鏡可以標記受污染顆粒的特定尺寸（如圖4（a）和（b）所示），但在測試過程中選擇的顆粒樣品是數(shù)量更多，并執(zhí)行顯示的粒子。記和執(zhí)行數(shù)學(xué)統(tǒng)計是一項非常繁瑣的任務(wù)，因為SEM圖像可以測量受污染顆粒的大小，受污染顆粒的當量直徑等于投影表面的直徑。避免繁瑣的統(tǒng)計和標記工作，本文使用圖像處理方法對粒度進行統(tǒng)計工作。過準備的圖像處理程序?qū)εK顆粒的圖像處理程序進行處理，并基于大津處理（OTSU算法）對圖像進行二值化，電纜處理前后的圖像為如圖5所示。
　　程序重新使用處理后的圖像對污染顆粒的粒徑分布進行計數(shù)，并分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)以獲得污染顆粒的粒徑分布，如圖6所示。大霧天氣中，自然骯臟的絕緣材料表面上90％的污染顆粒的粒徑小于11μm，污染顆粒的平均粒徑為3.4μm，最大污染粒徑為41微米由于觀察點位于實驗建筑物的頂部，電纜并且距地面一定高度，因此它屬于半高海拔，因為最大，最重的粒子位于地面附近。
　　受污染顆粒粒徑分布的概率統(tǒng)計分析表明，在大霧天氣下，自然污染絕緣子表面受污染顆粒概率分布的總體趨勢與對數(shù)正態(tài)概率分布相似，如圖所示。6（a）。了檢驗該假設(shè)，圖7中顯示了對受污染的粒度數(shù)據(jù)的其他統(tǒng)計分析。以看出，粒度的對數(shù)正態(tài)百分比概率接近基線，因此推測是正確的，被污染顆粒的總粒徑分布趨勢約為對數(shù)正態(tài)分布。文以XP13-160保溫材料為研究對象，對蘇州大學(xué)大樓屋頂進行了為期一個月的自然污染測試。過自動構(gòu)造的大氣霧度顆粒濃度監(jiān)測裝置控制測試觀察點附近空間中的霧度顆粒濃度。
　　過Hitachi熱場發(fā)射掃描SU5000掃描電子顯微鏡收集受污染顆粒的電子顯微鏡圖像，并使用圖像處理方法掃描掃描電子顯微鏡圖像。污染的顆粒，然后程序處理圖像上被污染的顆粒的尺寸數(shù)據(jù)。后，分析了所得污染顆粒的總粒度數(shù)據(jù)。大霧天氣下自然沉積在絕緣子表面上的絕緣子表面上，受污染顆粒的粒徑分布的總體趨勢大致令人滿意，對數(shù)正態(tài)分布。于觀察點的位置在中海拔且考慮到不利的天氣條件，因此在觀察點處絕緣體表面的90％的粒徑小于11μm，并且平均粒徑污染顆粒的數(shù)量為3.4μm。徑是41μm。
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