本文檔針對斷路器的絕緣性能和質(zhì)量。系列有價值的數(shù)據(jù)（例如局部放電TEV值）的主要問題在于斷路器和滅弧室的耐壓性能并未降低。

　　是一種實用且快速的方法，具有高效的捕獲能力；降低了滅弧室的真空度，但不影響耐壓和分斷能力，斷路器一次回路的完整性沒有受到破壞，仍然具有容量正常流量。分斷能力也可以滿足要求。kV級開關(guān)斷路器是供電系統(tǒng)配電網(wǎng)中的重要設(shè)備。
　　數(shù)量眾多且分布廣泛。要意義本文以運行了10年的10 kV真空斷路器為研究對象，并通過各種測試和測試方法對性能參數(shù)進行了測試，并且已知每個參數(shù)的修改方式。提是電路將在一定的運行時間后運行。性能和機械性能以及生活條件的技術(shù)判斷。壓開關(guān)的絕緣性能是非常重要的質(zhì)量指標，關(guān)系到設(shè)備和人員的安全。此，斷路器必須具有較長的絕緣壽命。壓開關(guān)的類型測試，工廠測試和電氣服務(wù)轉(zhuǎn)換測試高壓開關(guān)的絕緣性能測試是強制性的[1]。該項目中，對斷路器樣品進行了工業(yè)頻率耐壓測試和局部放電測量測試，并對一次回路隔離進行了局部放電測量，確定了一段時間后的耐電壓水平和局部放電水平。高壓電氣設(shè)備中發(fā)生局部放電時，放電功率首先會聚集在與放電點相鄰的接地金屬部分上，形成電流脈沖并向各個方向傳播。于內(nèi)部放電，放電量集中在接地屏蔽的內(nèi)表面上，因此，如果屏蔽層是連續(xù)的，則無法從外部檢測到放電信號。是，情況并非如此：屏蔽層通常會在絕緣部分，密封連接，電纜絕緣端子等處撕裂，從而導致足夠的間斷性高頻信號被傳輸?shù)皆O(shè)備的外層。電產(chǎn)生的電磁波通過金屬盒的墊片或氣體絕緣開關(guān)的密封件傳播，并產(chǎn)生一個瞬態(tài)電壓，該電壓通過金屬盒的外表面?zhèn)鬏數(shù)降孛妗?br>　　些電壓脈沖是瞬態(tài)對。量電壓（TEV）。
　　壓脈沖在金屬殼的內(nèi)表面上傳播，電纜并最終通過開口，墊圈，蓋子等之間的間隙，然后沿著金屬殼的外表面到達地面。屬信封。電脈沖可由電容檢測器檢測。是TEV測量方法的基本原理。據(jù)部分放電VET的讀取結(jié)果，當壓力從0開始時，VET的值通常較低。

　　大約3 dB時，達到20 kV或25 kV后，VET的讀數(shù)會增加。速，當加壓到42 kV時，VET增大。數(shù)達到最大值，通常在40 dB和45 dB之間。路器C的斷相電流的當前最大有效值為33.72 kA，當截止值為34.23 kA時失敗。

　　形如圖1所示。流在第一個零交叉處并未成功中斷，而是繼續(xù)沿相反方向增長，并在振蕩5個周期后自然減小至零。斷路器的局部放電測試中，當斷裂之間的壓力為15 kV時，VET的測量值會波動，讀數(shù)有時會達到60 dB。即下降到零并重新開始測量。壓力為15 kV時，VTE的測量值為A?，F(xiàn)60 dB的高讀數(shù)，這在第三次測試中總是如此。
　　12號斷路器的局部放電測試期間，當A相，B相和C相的上觸點分別處于30 kV以上的壓力下時，TEV讀數(shù)接近或達到B相和C相的測量上限分別為60 dB。相接觸點加壓至42 kV時，暴露極限值的讀數(shù)也達到60 dB。
　　12號斷路器進行的重復局部放電測試表明，上述異常情況不可重現(xiàn)：例如，當分別對C相的上下觸點進行加壓和再次測量時，C的讀數(shù)VET恢復穩(wěn)定增長趨勢，壓力增加到42 kV。尚不超過40dB。

　　
　　外，電纜仔細比較同一斷路器在不同壓力模式下的測量結(jié)果：測量值TEV隨電壓上升而增加，但在一定電壓水平下，VTE值相對于電壓水平急劇上升正面和背面。量值高，也就是說存在拐點。如，當斷路器在斷裂之間被加壓到30 kV時，VTE值顯著增加，而當電壓增加到35 kV時，VTE值減小。外，一般TEV值在將斷路器加壓至15 kV或20 kV以上之后，還會顯著增加，并且某些斷路器在電壓達到20之前已超過TEV讀數(shù)超過10 dB。kV，例如12號斷路器。
　　P測試中的異常情況主要是由于讀取到的VET異常高而達到上限，拐點或過早上升。械作用試驗，加熱試驗，回路電阻的測量，斷開電流試驗，電阻和局部放電電壓的試驗，斷路器的一系列機械特性，尺寸修改獲得了機械部件和局部排放的TEV值。護室5到9年的自動關(guān)閉和反作用力所用的有價值數(shù)據(jù)符合要求。

　　
　　路器和滅弧室運行5至9年的耐壓性能并未降低：TEV方法可用于檢測由組件松動引起的局部放電異常斷路器主回路，方便快捷的方法，具有高效的捕獲能力。經(jīng)運行了5至9年的斷路器主電路的完整性沒有受到破壞，它仍然具有正常的吞吐能力，其分斷能力也可以滿足要求。
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