隨著中國(guó)電氣工業(yè)的飛速發(fā)展，環(huán)境校正和高壓絕緣實(shí)驗(yàn)的調(diào)度水平也有了很大提高。文主要通過(guò)分析海拔高度和大氣條件對(duì)高壓產(chǎn)品外部絕緣實(shí)驗(yàn)高壓的影響，對(duì)環(huán)境校正過(guò)程進(jìn)行分析，電纜為行業(yè)發(fā)展提供參考。國(guó)電器。進(jìn)行絕緣的外部檢查時(shí)，許多高壓產(chǎn)品必須在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中考慮大氣條件和產(chǎn)品的高度。于氣隙和固體絕緣材料的放電電壓從設(shè)備泄漏，放電電壓受大氣條件和海拔高度，大氣條件以及溫度變化的影響。度，外部絕緣的破壞性放電電壓也會(huì)隨之變化，因此在測(cè)試產(chǎn)品的外部絕緣時(shí)，必須調(diào)整標(biāo)準(zhǔn)絕緣測(cè)試的電壓。據(jù)先前實(shí)驗(yàn)人員的校正因子的計(jì)算，取決于當(dāng)時(shí)的大氣條件，可以找到GB / T 1627·1的中性空氣密度和環(huán)境溫度變化的圖表，并且獲得最終的校正結(jié)果。種工作方式不僅要花費(fèi)時(shí)間，而且很容易產(chǎn)生計(jì)算錯(cuò)誤，這會(huì)影響計(jì)算結(jié)果的準(zhǔn)確性。開(kāi)發(fā)的新軟件使用最小二乘法的原理調(diào)整曲線，并使用VB更改方法。GB / T 1627·1的相關(guān)曲線調(diào)整為一個(gè)函數(shù)后，即可在環(huán)境參數(shù)中使用。
　　速獲得所需的校正結(jié)果。于最小二乘平移曲線的高精度要求，其誤差遠(yuǎn)小于每次檢查產(chǎn)生的視覺(jué)誤差，可以使計(jì)算結(jié)果更加真實(shí)準(zhǔn)確。
　　部絕緣的破壞性放電電壓與實(shí)驗(yàn)中使用的大氣條件的變化有很大關(guān)系。驗(yàn)表明，空氣中的放電電壓隨密度而變化。際上，隨著密度的變化，空氣中電子的平均速度也會(huì)變化，并且電氣過(guò)程似乎會(huì)變?nèi)趸蚋纳啤饷芏葘?duì)放電電壓的影響相對(duì)較小，但是濕度對(duì)放電電壓的影響相對(duì)復(fù)雜。驗(yàn)表明，均勻電場(chǎng)中空氣的放電電壓隨濕度的增加而增加，但上升速度非常慢，幾乎不受濕度的影響。是，在特別不均勻的電場(chǎng)中，空氣中濕度的增加對(duì)氣隙的擊穿電壓有很大的影響。電電壓與濕度有很大的關(guān)系，因?yàn)樗肿游娮有纬韶?fù)粒子。旦電子形成負(fù)粒子，自由運(yùn)動(dòng)也將大大減少，并且在電場(chǎng)中產(chǎn)生電的能力也會(huì)減弱。著濕度的增加，由電子形成的負(fù)離子被水分子吸引的比例相對(duì)增加，間隔中的電能作用也降低，從而導(dǎo)致電壓升高放電。場(chǎng)強(qiáng)度越高，電子移動(dòng)得越快，并且產(chǎn)生負(fù)離子的可能性就越大。均勻電場(chǎng)中，平均放電場(chǎng)的強(qiáng)度高，濕度的影響相對(duì)較小。非常不均勻的電場(chǎng)中，平均放電場(chǎng)的強(qiáng)度相對(duì)較低，因此濕度的影響不夠明顯。

　　此，在均勻且略微不均勻的電場(chǎng)中，濕度的影響相對(duì)較小。非常不均勻的電場(chǎng)（氣隙和絕緣子）中，它們的放電電壓通常隨濕度的變化而變化。濕度超過(guò)一定值時(shí)，在不規(guī)則放電情況下會(huì)出現(xiàn)放電電壓，特別是絕緣表面層上的電壓旁路電壓，并且分散變得更大。實(shí)驗(yàn)中，實(shí)驗(yàn)者應(yīng)特別注意。于高壓產(chǎn)品，由于測(cè)試地點(diǎn)的海拔高度和使用地點(diǎn)不同，因此必須在實(shí)驗(yàn)中校正海拔高度。果海拔升高，空氣密度降低，因此測(cè)試電壓的影響與空氣密度對(duì)測(cè)試電壓的影響之間會(huì)有很大的連貫性。
　　正因子可用于轉(zhuǎn)換標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下的指定實(shí)驗(yàn)電壓值，以滿足測(cè)試條件的需求。反地??，所測(cè)量的旁路電壓值的標(biāo)準(zhǔn)值也可以在標(biāo)準(zhǔn)參考?xì)夥盏臈l件下轉(zhuǎn)換為電壓值。負(fù)高壓產(chǎn)品的外部絕緣實(shí)驗(yàn)中，通常研究產(chǎn)品在實(shí)驗(yàn)中抵抗張力的能力，并且通常將標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)張力計(jì)算為實(shí)驗(yàn)條件所需的張力值。際上，產(chǎn)品的外部絕緣的電壓值U是通過(guò)在標(biāo)準(zhǔn)參考?xì)夥障聦y(cè)試電壓U0乘以K得出的：U = U0×K，其中K由兩部分組成，其中是大氣條件下的校正因子Kt。
　　拔校正因子Ka：K = Kt×Ka。部絕緣的破壞性放電取決于大氣條件，通常，空氣中給定路徑的破壞性放電電壓會(huì)隨著空氣密度和濕度的變化而變化。此，在外部絕緣的高壓測(cè)試中，必須考慮實(shí)際大氣條件與標(biāo)準(zhǔn)大氣條件之間的差異，并且必須通過(guò)大氣條件校正因子Kt來(lái)校正標(biāo)準(zhǔn)耐壓大氣條件校正因子Kt由空氣密度校正因子K1和濕度校正因子K2兩部分組成：Kt ＝ K1×K2。氣密度校正因子K1取決于相對(duì)空氣的相對(duì)密度δ，其表達(dá)式為：K1 =δm。溫度為t（℃）且大氣壓為b（kPa）時(shí)，空氣的相對(duì)密度為：δ= b（273 t0）/ [b0（273 t）]。度校正因子K2的表達(dá)式為：K2 = Kw。此，K不是環(huán)境校正因子。K取決于測(cè)試電壓的類型，并且是絕對(duì)濕度h與空氣相對(duì)密度δ之比h /δ的函數(shù)。以使用最小二乘曲線來(lái)近似。h / 8值大于15 g·m-3的濕度校正仍在研究中。引w也在下面給出。引m和w鏈接到另一個(gè)特征參數(shù)g：g = Ub /500LδK。中：Ub是指在實(shí)際大氣條件下的50％破壞性放電電壓值（測(cè)量或估算）。
　　耐力測(cè)試中，可以假定它是測(cè)試電壓值的1.1倍；空氣δ的相對(duì)密度和參數(shù)K為實(shí)數(shù)值。L是被測(cè)物的絕緣的最短放電路徑，是m，w與特性參數(shù)g的關(guān)系曲線。壓產(chǎn)品的外部絕緣的破壞性放電也與測(cè)試地點(diǎn)的高度有關(guān)。據(jù)經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)，對(duì)于海拔高于1000 m且不超過(guò)4000 m的設(shè)備的外部絕緣，每增加100 m高度，絕緣電阻將降低約1％，并且高度校正因子Ka的表達(dá)式為：Ka = em（（H- 1000）/ 8150]。

　　
　　中，m與大氣因子相同，M是關(guān)于頻率的兩個(gè)完全獨(dú)立的參數(shù)公式功率，雷電脈沖和相之間的工作脈沖電壓之間的關(guān)系，m = 1;相對(duì)于縱向絕緣的工作脈沖電壓，m = 0.9;相對(duì)于相對(duì)電壓地面操作脈沖的變化，m = 0.75在軟件設(shè)計(jì)中，基于測(cè)試人員簡(jiǎn)化操作的原理，在WINXP平臺(tái)上使用VB6.0創(chuàng)建了簡(jiǎn)單明了的界面。件初始化它由環(huán)境參數(shù)輸入和測(cè)試參數(shù)輸入兩部分組成，對(duì)話框形式的圖形屏幕直觀易用。據(jù)處理和計(jì)算。輸入環(huán)境和測(cè)試數(shù)據(jù)分配給相應(yīng)的變量，然后使用最小二乘法調(diào)整計(jì)算校正因子所需的曲線的表達(dá)式。據(jù)高壓測(cè)試技術(shù)第一部分的一般測(cè)試要求所要求的計(jì)算原理，通過(guò)VB編程計(jì)算校正值，最終因子結(jié)果顯示在界面的文本區(qū)域中。界面文本中的計(jì)算結(jié)果可以訪問(wèn)，打印，修改，編輯等，并且可以根據(jù)顯示的需要修改參數(shù)。能圖包括三個(gè)級(jí)別：程序初始化，數(shù)據(jù)處理和后處理。于初始化部分，在測(cè)試過(guò)程中主要輸入溫度，濕度，大氣壓力，海拔高度和標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下的測(cè)試電壓，然后輸入環(huán)境校正因子和電壓數(shù)據(jù)。需的測(cè)試通過(guò)數(shù)據(jù)處理部分獲得，最后通過(guò)打印和其他后處理獲得。面結(jié)果。小二乘法是一種數(shù)學(xué)優(yōu)化技術(shù)，它通過(guò)最小化平方誤差的總和來(lái)找到數(shù)據(jù)集的最佳函數(shù)匹配。定基本原理一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn){（xi，yi）}（i = 1，2，...，m）和一組函數(shù)gk（x）（k = 1，2，...， n）找出數(shù)字a1，a2，...，an（假設(shè)m> n），做函數(shù)p（x）= a1g1（x） a2g2（x） ... angn（x）數(shù)據(jù)點(diǎn)的二次誤差之和算術(shù)的平方根最小。小二乘方法的優(yōu)點(diǎn)是該方法簡(jiǎn)單，計(jì)算速度快，沒(méi)??有截?cái)嗾`差，沒(méi)有算法穩(wěn)定性的問(wèn)題，它具有對(duì)誤差的中等影響和測(cè)量精度也很高。小二乘法通常用于曲線擬合。
　　過(guò)調(diào)整，您可以計(jì)算一些未知中間點(diǎn)的值或預(yù)測(cè)此數(shù)據(jù)范圍之外的值。而言之，本文通過(guò)介紹環(huán)境校正和程序性介紹高壓外部絕緣測(cè)試，分析了高壓外部絕緣子在中國(guó)電氣行業(yè)中的重要作用。工會(huì)為原始的高壓測(cè)試計(jì)算校正因子，這會(huì)導(dǎo)致諸如數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確之類的問(wèn)題，程序技術(shù)可以通過(guò)使用最小二乘法調(diào)整曲線并改進(jìn)來(lái)完成數(shù)據(jù)整理任務(wù)。率數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。源工業(yè)的發(fā)展提供了技術(shù)支持。
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